鹽霧試驗(yàn)箱 電子組件抗鹽霧檢測(cè)儀器

鹽霧試驗(yàn)箱 電子組件抗鹽霧檢測(cè)儀器

產(chǎn)品概述
本鹽霧試驗(yàn)箱是專為電子元器件、PCB線路板、接插件及各類電子組件進(jìn)行抗鹽霧腐蝕性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的高精度環(huán)境模擬設(shè)備。它通過(guò)創(chuàng)造一個(gè)人工加速的、可控的鹽霧腐蝕環(huán)境，嚴(yán)格檢驗(yàn)電子產(chǎn)品的金屬部分、電鍍層及防護(hù)涂層的耐腐蝕能力和可靠性，有效評(píng)估其在實(shí)際惡劣環(huán)境下的使用壽命。

核心用途
主要用于測(cè)試電子產(chǎn)品的耐腐蝕性能，如評(píng)估PCB板的線路腐蝕、綠油起泡、焊點(diǎn)銹蝕情況；檢查電子元器件的引腳、外殼鍍層是否被腐蝕；驗(yàn)證接插件和金屬連接件的導(dǎo)電性能是否因鹽霧侵蝕而下降或失效。是預(yù)防“鹽霧失效"，提升電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵工具。

鹽霧試驗(yàn)箱 電子組件抗鹽霧檢測(cè)儀器

技術(shù)參數(shù)

• 箱體容積： 標(biāo)準(zhǔn)120L、270L、480L或定制（滿足不同批量測(cè)試需求）

• 溫度范圍： 室溫~55℃（室溫~50℃）

• 溫度均勻度： ≤±2℃

• 溫度波動(dòng)度： ≤±0.5℃

• 鹽霧沉降量： 1.0~2.0ml/80cm2·h（可調(diào)，符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)）

• 噴霧方式： 連續(xù)/周期任選，滿足標(biāo)準(zhǔn)NSS、AASS、CASS試驗(yàn)

• 壓縮空氣壓力： 0.2~0.4MPa（飽和桶自動(dòng)控溫）

• 符合標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 2423.17, IEC 60068-2-11, ISO 9227, ASTM B117等

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

• 箱體材質(zhì)： 采用高級(jí)進(jìn)口耐高溫、高抗腐蝕PP（聚丙烯）板材，一次模具成型。箱體無(wú)焊縫、無(wú)泄漏，確保在長(zhǎng)期高鹽分環(huán)境下腐蝕，保證測(cè)試環(huán)境的純凈，避免因箱體自身銹蝕污染樣品。

• 樣品架： 采用進(jìn)口優(yōu)質(zhì)P.V.C板支架，或設(shè)計(jì)為耐腐蝕的玻璃纖維增強(qiáng)塑料，確保擱置牢固且不影響鹽霧自由沉降。

溫度控制系統(tǒng)

• 采用PID+SSR智能微電腦溫度控制器，觸控屏操作，精度高，讀數(shù)清晰。

• 內(nèi)置高精度鉑金電阻（PT100）作為溫度傳感器，測(cè)溫精準(zhǔn)。

• 采用耐腐蝕鈦合金加熱器，配合高效空氣攪拌系統(tǒng)，確保箱內(nèi)溫度快速上升并保持均勻度和穩(wěn)定度，為測(cè)試提供精確且可重復(fù)的溫度環(huán)境。

設(shè)備亮點(diǎn)

1. 電子測(cè)試專用設(shè)計(jì)： 特別針對(duì)電子組件的小型化、高精度需求，確保鹽霧沉降均勻。

2. 高純度環(huán)境： 全塑結(jié)構(gòu)及耐腐蝕材料，杜絕金屬離子污染，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

3. 智能控制： 大屏觸摸屏顯示，程序設(shè)定簡(jiǎn)單，可存儲(chǔ)歷史數(shù)據(jù)，方便追溯。

4. 安全可靠： 具備低鹽水、超溫、過(guò)載、缺相等多重安全保護(hù)功能，確保無(wú)人值守時(shí)的安全運(yùn)行。

核心優(yōu)勢(shì)

• 精準(zhǔn)可靠： 精確的溫控和霧化系統(tǒng)為電子組件提供高度一致的測(cè)試條件，數(shù)據(jù)重復(fù)性好，可信度高。

• 經(jīng)久耐用： 全抗腐蝕結(jié)構(gòu)極大延長(zhǎng)了設(shè)備的使用壽命，顯著降低維護(hù)成本。

• 操作簡(jiǎn)便： 人性化設(shè)計(jì)，從注水、排水到實(shí)驗(yàn)設(shè)置都極為簡(jiǎn)便，有效提升實(shí)驗(yàn)室效率。

應(yīng)用領(lǐng)域
廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子產(chǎn)品、汽車電子、航空航天電子、船舶電子設(shè)備、通信設(shè)備（5G基站）、新能源產(chǎn)品、工業(yè)控制模塊等所有需要驗(yàn)證其在含鹽分大氣中工作可靠性的電子領(lǐng)域。