PCB電路板可靠性測試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱

PCB電路板可靠性測試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品概述

本設(shè)備是專為評估PCB電路板、電子元器件及焊接點(diǎn)在高低溫環(huán)境快速變化下的耐久性、抗疲勞性及可靠性而設(shè)計(jì)的精密測試儀器。它通過模擬嚴(yán)苛的溫度驟變條件，精準(zhǔn)暴露產(chǎn)品潛在的材料缺陷、熱膨脹系數(shù)不匹配導(dǎo)致的斷裂、焊點(diǎn)開裂等工藝缺陷，是提升電子產(chǎn)品品質(zhì)與壽命的關(guān)鍵檢測設(shè)備。

基本結(jié)構(gòu)

設(shè)備采用國際主流、對測試樣品極其友好的三箱式（預(yù)熱區(qū)、預(yù)冷區(qū)、測試區(qū)）獨(dú)立結(jié)構(gòu)。測試區(qū)為靜止式工作室，樣品固定不動(dòng)，通過籃筐機(jī)構(gòu)將高溫槽和低溫槽的冷熱氣流高效、無干擾地送入測試區(qū)，實(shí)現(xiàn)溫度沖擊。這種結(jié)構(gòu)避免了樣品移動(dòng)帶來的機(jī)械應(yīng)力損傷，尤其適合精密、易損的PCB板測試。箱體采用超厚高強(qiáng)度 SUS304#不銹鋼板，中間填充高強(qiáng)度聚氨酯發(fā)泡，確保絕熱性能。核心制冷與加熱部件均布局于箱體下部，結(jié)構(gòu)緊湊合理。

PCB電路板可靠性測試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱

工作原理

其工作基于高溫蓄熱與低溫蓄冷的靜態(tài)沖擊原理。預(yù)熱區(qū)和預(yù)冷區(qū)在測試前分別持續(xù)維持在高低溫設(shè)定值（如+150°C / -65°C）。測試開始時(shí)，待測樣品靜止于測試區(qū)，一套高性能氣動(dòng)風(fēng)門在數(shù)秒內(nèi)迅速完成切換，將預(yù)先儲(chǔ)備好的高溫或低溫氣流通過特殊設(shè)計(jì)的通道強(qiáng)力送入測試區(qū)，使樣品溫度在極短時(shí)間內(nèi)發(fā)生劇烈變化。待達(dá)到設(shè)定的暴露時(shí)間后，風(fēng)門再次切換，進(jìn)行反方向沖擊，從而實(shí)現(xiàn)精確、快速的溫度循環(huán)轉(zhuǎn)換。

設(shè)備亮點(diǎn)

1. 無損沖擊：三箱靜態(tài)沖擊技術(shù)，測試過程中樣品籃無需移動(dòng)，杜絕了因機(jī)械運(yùn)動(dòng)對樣品連接線及本身造成的潛在物理損傷，測試結(jié)果更真實(shí)可信。

2. 恢復(fù)時(shí)間超快：得益于高效的蓄熱蓄冷設(shè)計(jì)和高性能風(fēng)門切換系統(tǒng)，設(shè)備溫度恢復(fù)時(shí)間極短（通常≤5分鐘），確保每個(gè)測試周期的溫度條件都能準(zhǔn)確施加于樣品上，嚴(yán)格符合測試規(guī)范。

3. 全程監(jiān)控與追溯：配置7/24小時(shí)不間斷記錄的溫度傳感器和軟件系統(tǒng)，實(shí)時(shí)監(jiān)測試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化曲線，所有測試數(shù)據(jù)可追溯，并自動(dòng)生成報(bào)告，為失效分析提供精確數(shù)據(jù)支撐。

核心優(yōu)勢

• 測試一致性高：獨(dú)立的預(yù)熱預(yù)冷腔室避免了冷熱互擾，確保了每次溫度沖擊的起始條件一致，測試重復(fù)性和再現(xiàn)性（GR&R）。

• 超長使用壽命：核心部件如法國“泰康"或德國“比澤爾"壓縮機(jī)、日本“CKD"氣動(dòng)元件、芬蘭“佳樂"傳感器的選用，確保了整機(jī)在長期嚴(yán)苛工況下的運(yùn)行穩(wěn)定性和超長壽命。

• 超低運(yùn)行成本：蓄冷蓄熱式設(shè)計(jì)，僅在準(zhǔn)備階段需要壓縮機(jī)和工作至設(shè)定溫度，沖擊過程中壓縮機(jī)無需工作，相比傳統(tǒng)移動(dòng)吊籃式，能耗大幅降低，節(jié)能。

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 人機(jī)交互：配備超大尺寸高清觸摸屏，圖形化界面，操作邏輯清晰，可存儲(chǔ)上百組試驗(yàn)程序，支持U盤一鍵導(dǎo)出歷史數(shù)據(jù)。

• 安全保障：具備多重硬件級安全保護(hù)（壓縮機(jī)超壓/過熱、樣品超溫、電源缺相逆相、鼓風(fēng)電機(jī)過流等），并設(shè)有獨(dú)立的超溫保護(hù)器，為無人值守的長期測試提供安全保障。

• 定制化服務(wù)：可根據(jù)客戶特殊測試標(biāo)準(zhǔn)（如IPC-TM-650、JESD22-A104E）定制測試流程，并提供多種尺寸的測試區(qū)容積選擇，以滿足從微小元器件到大型PCBA組件的不同測試需求。