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您的位置:首頁  /  產(chǎn)品展示  /  鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱  /  鹽霧試驗(yàn)箱  /  SH-60鹽霧試驗(yàn)箱 電子元件抗老化檢測(cè)專用設(shè)備

鹽霧試驗(yàn)箱 電子元件抗老化檢測(cè)專用設(shè)備

鹽霧試驗(yàn)箱 電子元件抗老化檢測(cè)專用設(shè)備是一款利用含鹽溶液在特定箱體內(nèi)形成彌漫霧狀環(huán)境,以加速評(píng)估電子元器件、PCB線路板、金屬鍍層及外殼材料耐腐蝕性能與抗老化能力的精密環(huán)境模擬設(shè)備。其通過嚴(yán)格模擬海洋、工業(yè)大氣等惡劣腐蝕環(huán)境,在短時(shí)間內(nèi)再現(xiàn)電子元件因鹽霧侵蝕造成的老化、失效過程,是產(chǎn)品質(zhì)量控制、可靠性驗(yàn)證及新品研發(fā)的關(guān)鍵設(shè)備。

  • 產(chǎn)品型號(hào):SH-60
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2025-09-05
  • 訪  問  量:569
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詳細(xì)介紹

鹽霧試驗(yàn)箱 電子元件抗老化檢測(cè)專用設(shè)備

產(chǎn)品詳情

本品為電子元件抗老化檢測(cè)專用鹽霧試驗(yàn)箱,是一款利用含鹽溶液在特定箱體內(nèi)形成彌漫霧狀環(huán)境,以加速評(píng)估電子元器件、PCB線路板、金屬鍍層及外殼材料耐腐蝕性能與抗老化能力的精密環(huán)境模擬設(shè)備。其通過嚴(yán)格模擬海洋、工業(yè)大氣等惡劣腐蝕環(huán)境,在短時(shí)間內(nèi)再現(xiàn)電子元件因鹽霧侵蝕造成的老化、失效過程,是產(chǎn)品質(zhì)量控制、可靠性驗(yàn)證及新品研發(fā)的關(guān)鍵設(shè)備。

主要用途

本設(shè)備專用于各類電子元器件的抗老化與耐腐蝕測(cè)試,具體包括:PCB印刷電路板的鍍層孔隙率、抗蝕性能測(cè)試;電子接插件、連接器的導(dǎo)電性與接觸可靠性驗(yàn)證;半導(dǎo)體元件、IC芯片封裝外殼的耐腐蝕能力評(píng)估;以及各類金屬緊固件、外殼鍍層在鹽霧環(huán)境下的耐久性試驗(yàn),符合ISO 9227、ASTM B117、JIS Z2371等國際通用標(biāo)準(zhǔn)。



鹽霧試驗(yàn)箱 電子元件抗老化檢測(cè)專用設(shè)備

技術(shù)參數(shù)

  • 溫度范圍:室溫~55℃(中性鹽霧試驗(yàn))

  • 溫度波動(dòng)度:±0.5℃

  • 鹽霧沉降量:1.0~2.0ml/80cm2·h(可調(diào))

  • 噴霧方式:連續(xù)/周期任選(支持交變循環(huán))

  • 試驗(yàn)室容積:根據(jù)需求定制(如150L、270L、1000L等)

  • 電源電壓:AC220V±10% 50Hz

  • 滿足標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.17, IEC 60068-2-11, ISO 9227, ASTM B117

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

  • 整體結(jié)構(gòu):采用式工作室結(jié)構(gòu),試驗(yàn)區(qū)域與設(shè)備機(jī)械控制區(qū)域分離,確保長期穩(wěn)定運(yùn)行。

  • 內(nèi)膽材質(zhì):采用進(jìn)口高品質(zhì)耐高溫、高抗腐蝕PP(聚丙烯)板材,一體成型焊接,無焊縫、不漏氣,確保長期接觸鹽霧無腐蝕。

  • 外殼材質(zhì):優(yōu)質(zhì)A3鋼板,表面經(jīng)靜電噴涂防腐處理,防潮耐腐蝕,外觀整潔美觀。

  • 密封蓋:采用透明亞克力或PC材料,耐沖擊、耐腐蝕,便于清晰觀察箱內(nèi)測(cè)試狀況。

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 高精度控制:采用智能PID溫控儀,控溫精準(zhǔn),波動(dòng)小,確保測(cè)試條件的一致性。

  • 全自動(dòng)運(yùn)行:配備觸摸屏人機(jī)界面,程序設(shè)定簡(jiǎn)便,可自動(dòng)完成預(yù)熱、噴霧、飽和桶加熱、除霧等全過程。

  • 耐腐蝕設(shè)計(jì):箱體內(nèi)部所有附件,包括噴嘴、塔柱、支架、加熱器等,均采用耐腐蝕材料(如CPVC、鈦合金)制造,壽命長久。

鹽霧試驗(yàn)箱 電子元件抗老化檢測(cè)專用設(shè)備


風(fēng)道系統(tǒng)

采用設(shè)計(jì)的伯努利吸嘴式鹽霧系統(tǒng),霧化均勻細(xì)膩,沉降量穩(wěn)定可調(diào)。內(nèi)置渦流式氣霧分離裝置,有效去除壓縮空氣中的雜質(zhì)與油分,確保純凈鹽霧??茖W(xué)的風(fēng)道結(jié)構(gòu)保證箱內(nèi)溫度均勻性,并使鹽霧能自然均勻地沉降在樣品表面。

設(shè)備亮點(diǎn)

  1. 電子元件專用設(shè)計(jì):特別考慮了電子元件測(cè)試中對(duì)沉降量均勻性、腐蝕產(chǎn)物潔凈度的苛刻要求。

  2. 超長周期運(yùn)行可靠性:核心部件均選用耐腐蝕品牌件,支持?jǐn)?shù)千小時(shí)不間斷測(cè)試,故障率極低。

  3. 多重保護(hù)系統(tǒng):具備低鹽水、超溫、過載、漏電等多重安全保護(hù)功能,確保人與設(shè)備的安全。

優(yōu)勢(shì)總結(jié)

本鹽霧試驗(yàn)箱以精準(zhǔn)的控溫技術(shù)、均勻穩(wěn)定的鹽霧沉降、耐腐蝕的箱體材質(zhì)以及高度自動(dòng)化的操作,為電子元件行業(yè)提供了一種高效、可靠、符合標(biāo)準(zhǔn)的抗老化與耐腐蝕試驗(yàn)解決方案,能顯著提升產(chǎn)品質(zhì)量可靠性驗(yàn)證的效率和準(zhǔn)確性。



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