高低溫試驗箱 電子芯片環(huán)境穩(wěn)定性檢測儀器

高低溫試驗箱 電子芯片環(huán)境穩(wěn)定性檢測儀器

產品詳情

高低溫試驗箱是專為電子芯片、半導體元件及精密電子部件設計的環(huán)境穩(wěn)定性檢測設備。其采用高強度不銹鋼內膽與雙層隔熱結構，配備精密溫控系統(tǒng)，可實現-70℃至+150℃的寬溫度范圍測試，波動度控制在±0.5℃以內。設備支持多段編程功能，可模擬高溫、低溫、恒溫及交變循環(huán)等復雜環(huán)境條件，并配備RS485通信接口，支持數據實時監(jiān)控與遠程操作。

用途

該設備主要用于電子芯片的環(huán)境適應性驗證，包括高溫運行、低溫啟動、溫度循環(huán)耐受性、材料熱膨脹系數測試等。廣泛應用于半導體制造、汽車電子、航空航天、通信設備等領域，確保產品在溫度條件下的可靠性、穩(wěn)定性及壽命表現。

高低溫試驗箱 電子芯片環(huán)境穩(wěn)定性檢測儀器

概述

高低溫試驗箱通過模擬人工環(huán)境應力，加速暴露電子芯片在設計、材料或工藝中的潛在缺陷。其具備高精度溫控能力與可重復測試條件，是產品研發(fā)、質量檢驗及失效分析中的關鍵工具。

產品特點

1. 寬溫域覆蓋：支持-70℃至+150℃快速變溫，滿足多數芯片測試標準；

2. 多段編程控制：可設定多達100組程序，模擬復雜溫度變化場景；

3. 低能耗設計：采用變頻壓縮機和環(huán)保制冷劑，節(jié)能且符合綠色標準；

4. 安全防護系統(tǒng)：具備過溫保護、電源故障恢復、漏電防護等多重安全機制。

工作原理

設備通過壓縮機制冷系統(tǒng)實現低溫環(huán)境，電加熱系統(tǒng)實現高溫環(huán)境。溫控器接收箱內傳感器數據，動態(tài)調節(jié)制冷/加熱輸出功率，實現精確溫控。芯片樣品置于內部擱架，通過強制空氣循環(huán)確保溫度均勻性，模擬真實環(huán)境應力。

注意事項

1. 避免在高溫狀態(tài)下直接開啟箱門，防止溫差驟變導致凝露或部件損傷；

2. 定期清潔冷凝器和過濾器，保持散熱效率；

3. 測試樣品需固定放置，避免阻擋風道循環(huán)；

4. 長期停用時需排空制冷劑并斷電維護。

設備亮點

• 智能交互界面：7英寸觸摸屏支持圖形化操作與實時曲線顯示；

• 模塊化設計：核心部件（壓縮機、控制器）支持快速更換，減少停機時間；

• 數據追溯功能：自動生成測試報告，符合ISO/IEC 17025質量管理要求。

優(yōu)勢

1. 高精度控制：溫度均勻性達±1℃，確保測試一致性；
   2 長壽命設計：核心壓縮機壽命超10萬小時，降低長期使用成本；

2. 擴展性強：可選配濕度控制、振動模塊等功能，適應多樣化測試需求；

3. 符合國際標準：滿足MIL-STD-810、JEDEC、GB/T 2423等測試規(guī)范。