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產(chǎn)品展示/ Product display

  • 工業(yè)冷熱沖擊試驗(yàn)箱 大容量 穩(wěn)定溫變速率

    工業(yè)冷熱沖擊試驗(yàn)箱 大容量 穩(wěn)定溫變速率是一種用于模擬高低溫快速轉(zhuǎn)換環(huán)境的測(cè)試設(shè)備,適用于電子元器件、汽車零部件、航空航天材料等行業(yè)的可靠性測(cè)試。該設(shè)備采用大容量設(shè)計(jì),具備穩(wěn)定的溫變速率,確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。

    更新時(shí)間

    2025-12-20

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    738

  • 真空冷熱沖擊試驗(yàn)箱 特殊環(huán)境模擬測(cè)試設(shè)備

    真空冷熱沖擊試驗(yàn)箱 特殊環(huán)境模擬測(cè)試設(shè)備是一種高可靠性環(huán)境模擬測(cè)試設(shè)備。它在傳統(tǒng)兩箱式冷熱沖擊箱的基礎(chǔ)上,集成了真空(低壓)環(huán)境模擬功能,能夠在高真空或指定低壓條件下,對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行極速的溫度轉(zhuǎn)換測(cè)試,精確復(fù)現(xiàn)產(chǎn)品在太空、高空或密閉封裝內(nèi)部所經(jīng)歷的嚴(yán)酷溫度與壓力耦合環(huán)境。

    更新時(shí)間

    2025-12-26

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    724

  • 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱 綜合環(huán)境模擬測(cè)試箱

    高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱 綜合環(huán)境模擬測(cè)試箱也稱溫度沖擊試驗(yàn)箱或三箱式冷熱沖擊箱,是用于測(cè)試材料、電子元器件、汽車部件、航空航天產(chǎn)品等在極短時(shí)間內(nèi)承受急劇溫度變化能力的專業(yè)設(shè)備。其核心特點(diǎn)是創(chuàng)造高溫與低溫環(huán)境,并在兩者間實(shí)現(xiàn)快速、精確的轉(zhuǎn)換,以模擬嚴(yán)苛的溫度沖擊條件。

    更新時(shí)間

    2025-12-26

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    813

  • 汽車零部件冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可靠性檢測(cè)設(shè)備

    汽車零部件冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可靠性檢測(cè)設(shè)備是專用于測(cè)試汽車電子元器件及材料在瞬間經(jīng)受高溫和極低溫環(huán)境變化下的耐受能力的可靠性檢測(cè)設(shè)備。它通過(guò)模擬嚴(yán)苛的溫度劇變環(huán)境,在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)測(cè)試品因熱脹冷縮引起的物理變化和化學(xué)損傷,是提升汽車產(chǎn)品可靠性、耐久性及質(zhì)量穩(wěn)定性的關(guān)鍵設(shè)備。

    更新時(shí)間

    2025-12-26

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  • 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 芯片可靠性環(huán)境測(cè)試設(shè)備

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱 芯片可靠性環(huán)境測(cè)試設(shè)備是用于測(cè)試材料、元器件(尤其是芯片、集成電路)、電子產(chǎn)品及工業(yè)成品在瞬間承受高溫度和極低溫度連續(xù)變化的環(huán)境下的耐受能力。它通過(guò)模擬嚴(yán)苛的溫度驟變條件,在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)測(cè)試品的物理性能和電氣性能變化,是評(píng)估產(chǎn)品可靠性與耐久性的關(guān)鍵環(huán)境測(cè)試設(shè)備。

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    2025-12-27

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  • 新能源用冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電池可靠性測(cè)試

    新能源用冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電池可靠性測(cè)試專為電池研發(fā)與生產(chǎn)設(shè)計(jì),通過(guò)模擬 - 70℃至 150℃溫度環(huán)境,對(duì)動(dòng)力電池、儲(chǔ)能電池等進(jìn)行快速冷熱沖擊測(cè)試。箱體采用高強(qiáng)度不銹鋼內(nèi)膽與保溫層設(shè)計(jì),有效隔絕熱量傳遞,確保箱內(nèi)溫度穩(wěn)定;配備高精度傳感器與智能控制系統(tǒng),溫度控制精度達(dá) ±0.5℃,溫度均勻度≤2℃,可精準(zhǔn)模擬復(fù)雜氣候條件,為電池可靠性評(píng)估提供真實(shí)數(shù)據(jù)支撐。

    更新時(shí)間

    2025-08-19

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  • 電子電器冷熱沖擊試驗(yàn)箱 高效測(cè)試

    電子電器冷熱沖擊試驗(yàn)箱 高效測(cè)試是模擬溫度急劇變化環(huán)境、用于評(píng)估電子產(chǎn)品(如PCB板、集成電路、終端設(shè)備等)在瞬間冷熱交替條件下耐受性和可靠性的關(guān)鍵測(cè)試設(shè)備。其高效測(cè)試能力,能顯著加速暴露產(chǎn)品的材料缺陷和潛在故障,廣泛應(yīng)用于研發(fā)、品控和失效分析階段。

    更新時(shí)間

    2025-12-27

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  • 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電子環(huán)境耐受性檢測(cè)設(shè)備

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電子環(huán)境耐受性檢測(cè)設(shè)備是用于測(cè)試材料、電子產(chǎn)品及元器件在瞬間承受高溫度和極低溫連續(xù)變化環(huán)境下的耐受能力。它通過(guò)模擬溫度變化速率,在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)測(cè)試品因熱脹冷縮引發(fā)的化學(xué)變化或物理?yè)p傷,如裂紋、性能失效等。該設(shè)備是提升產(chǎn)品可靠性、進(jìn)行質(zhì)量控制和失效分析的關(guān)鍵設(shè)備。

    更新時(shí)間

    2025-10-24

    設(shè)備型號(hào)

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    830

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