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Cassification





恒溫恒濕半導體試驗箱,芯片耐溫耐濕測試是專為半導體行業(yè)設計的高精度環(huán)境測試設備,用于模擬不同溫濕度條件下芯片、電子元件及半導體材料的性能變化。該設備采用溫濕度控制系統(tǒng),確保測試環(huán)境的高度穩(wěn)定性和可靠性,滿足JESD22-A104、MIL-STD-883、IEC 60068等國際測試標準。
產品型號:SMC-100PF
廠商性質:生產廠家
更新時間:2025-08-17
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恒溫恒濕半導體試驗箱是專為半導體行業(yè)設計的高精度環(huán)境測試設備,用于模擬不同溫濕度條件下芯片、電子元件及半導體材料的性能變化。該設備采用溫濕度控制系統(tǒng),確保測試環(huán)境的高度穩(wěn)定性和可靠性,滿足JESD22-A104、MIL-STD-883、IEC 60068等國際測試標準。
半導體器件對溫濕度環(huán)境極為敏感,恒溫恒濕半導體試驗箱可精確控制溫濕度范圍(如-40℃~150℃,20%~98%RH),并支持快速溫變、高低溫循環(huán)、濕熱老化等測試模式,廣泛應用于芯片封裝測試、晶圓存儲、集成電路可靠性驗證等領域。



箱體結構:采用304不銹鋼內膽+靜電噴涂鋼板外殼,耐腐蝕、防靜電,確保長期穩(wěn)定運行。
溫濕度控制系統(tǒng):
制冷系統(tǒng):采用壓縮機制冷+液氮輔助(可選),實現快速降溫。
加熱系統(tǒng):PID智能調節(jié),確保溫度均勻性±0.5℃。
加濕系統(tǒng):超聲波加濕或蒸汽加濕,濕度控制精度±2%RH。
空氣循環(huán)系統(tǒng):離心風機+導風板設計,保證箱內溫濕度均勻分布。
安全保護系統(tǒng):過溫保護、漏電保護、缺水報警、故障自診斷等功能。
人機交互界面:7英寸觸摸屏+PLC控制,支持程序設定、數據存儲及USB導出。
溫度控制:通過PID算法調節(jié)加熱器和壓縮機,使箱內溫度快速達到設定值并保持穩(wěn)定。
濕度控制:加濕器產生水蒸氣,除濕系統(tǒng)(冷凝或干燥空氣置換)調節(jié)濕度,確保精確控制。
循環(huán)系統(tǒng):強制對流使溫濕度均勻分布,避免測試樣品受局部環(huán)境影響。
數據監(jiān)測:實時記錄溫濕度曲線,支持遠程監(jiān)控(可選配RS485或以太網接口)。
? 高精度控制:溫度波動±0.5℃,濕度波動±2%RH,滿足嚴苛測試需求。
? 寬范圍測試:支持-70℃~180℃(擴展型),適應環(huán)境模擬。
? 快速溫變:升降溫速率可達5℃~15℃/min(可選),提高測試效率。
? 多種測試模式:恒定溫濕度、循環(huán)溫變、濕熱老化、結露測試等。
? 智能化管理:支持程序設定、數據存儲、故障報警,操作便捷。
? 低噪音節(jié)能設計:采用高效壓縮機&降噪技術,符合環(huán)保要求。


?? 半導體芯片:IC、CPU、GPU、存儲芯片的耐溫耐濕測試。
?? 封裝測試:BGA、CSP、QFN等封裝器件的可靠性驗證。
?? 晶圓存儲:模擬晶圓廠恒溫恒濕存儲環(huán)境,防止氧化和濕氣侵蝕。
?? 電子元件:電容、電阻、PCB板的環(huán)境適應性測試。
?? 航天:高可靠性電子設備的環(huán)境模擬。
?? 汽車電子:車規(guī)級芯片(AEC-Q100)的溫濕度循環(huán)測試。
恒溫恒濕半導體試驗箱是半導體行業(yè)質量控制、可靠性測試、研發(fā)驗證的關鍵設備,其高精度、智能化、多功能的特點,可有效提升芯片產品的環(huán)境適應性和長期穩(wěn)定性。適用于晶圓廠、封測企業(yè)、科研機構、汽車電子廠商等用戶群體。

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