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產(chǎn)品展示/ Product display

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半導(dǎo)體芯片高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

半導(dǎo)體芯片高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱是專為半導(dǎo)體芯片、集成電路(IC)、封裝模塊等電子元器件的可靠性測試而設(shè)計(jì)的高精密環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。它通過模擬產(chǎn)品在高低溫瞬間變化的環(huán)境下的耐受能力,快速暴露其因材料不匹配、焊接疲勞、結(jié)構(gòu)缺陷等問題引起的潛在失效,是確保芯片產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵檢測工具。

  • 產(chǎn)品型號(hào):TSD-100F-2P
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2026-01-01
  • 訪  問  量:681
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詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體芯片高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。


產(chǎn)品詳情與概述

本設(shè)備是專為半導(dǎo)體芯片、集成電路(IC)、封裝模塊等電子元器件的可靠性測試而設(shè)計(jì)的高精密環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。它通過模擬產(chǎn)品在高低溫瞬間變化的環(huán)境下的耐受能力,快速暴露其因材料不匹配、焊接疲勞、結(jié)構(gòu)缺陷等問題引起的潛在失效,是確保芯片產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵檢測工具。

基本結(jié)構(gòu)

設(shè)備采用高可靠性的三箱式(預(yù)熱區(qū)、測試區(qū)、預(yù)冷區(qū))立式結(jié)構(gòu)。主體結(jié)構(gòu)包括:

  1. 箱體:采用高級別 SUS304 不銹鋼板材,內(nèi)部結(jié)構(gòu)專為芯片托盤承載優(yōu)化。

  2. 制冷系統(tǒng):采用進(jìn)口高品質(zhì)雙半封閉復(fù)疊式壓縮機(jī),配以高效蒸發(fā)冷凝器。

  3. 加熱系統(tǒng):采用耐高溫合金鎧裝電加熱器,無塵化設(shè)計(jì),滿足芯片測試潔凈要求。

  4. 風(fēng)道循環(huán)系統(tǒng):采用特殊設(shè)計(jì)的強(qiáng)力長軸電機(jī),驅(qū)動(dòng)多翼式離心風(fēng)輪,實(shí)現(xiàn)氣體的快速切換與循環(huán)。

  5. 控制系統(tǒng):集成高精度PLC控制器和大型彩色觸摸屏,配備多種通訊接口。



半導(dǎo)體芯片高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

工作原理

設(shè)備工作時(shí),預(yù)熱區(qū)和預(yù)冷區(qū)分別持續(xù)保持在設(shè)定的高溫(如+150℃/200℃)和低溫(如-65℃/-75℃)狀態(tài)。通過垂直升降的吊籃式托盤系統(tǒng)水平移動(dòng)的氣動(dòng)風(fēng)門切換系統(tǒng),將待測芯片樣品在兩溫區(qū)之間進(jìn)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換。轉(zhuǎn)換時(shí)間極短(通常<10秒),使樣品瞬間暴露在截然不同的溫度環(huán)境中,承受劇烈的熱應(yīng)力和收縮應(yīng)力沖擊。

設(shè)備亮點(diǎn)

  1. 超快速溫變率:采用氣流導(dǎo)向與節(jié)能設(shè)計(jì),溫度恢復(fù)時(shí)間極快,確保沖擊瞬間完成。

  2. 潔凈測試環(huán)境:內(nèi)部循環(huán)系統(tǒng)與加熱器均進(jìn)行特殊防污染處理,避免試驗(yàn)過程中雜質(zhì)對精密芯片的影響。

  3. 無損傳輸:樣品托盤移動(dòng)平穩(wěn),無劇烈震動(dòng),防止因機(jī)械運(yùn)動(dòng)對精密引腳造成損傷。

半導(dǎo)體芯片高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱


優(yōu)勢

  1. 測試精準(zhǔn)高效:符合JESD22-A104、MIL-STD-883等半導(dǎo)體行業(yè)核心測試標(biāo)準(zhǔn),測試結(jié)果可靠,極大縮短產(chǎn)品研發(fā)與驗(yàn)證周期。

  2. 智能人性化:具備故障自診斷、遠(yuǎn)程監(jiān)控、測試數(shù)據(jù)追溯和導(dǎo)出功能,并可定制專用工裝夾具,適配各種尺寸的芯片載具。

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 寬溫域范圍:提供-80℃至+220℃的寬廣溫度范圍,滿足各類芯片的測試極限。

  • 可視化管理:實(shí)時(shí)顯示溫度曲線、運(yùn)行狀態(tài)及故障信息,操作簡潔直觀。

  • 多重安全保護(hù):設(shè)有超溫保護(hù)、壓縮機(jī)過載/過熱保護(hù)、漏電保護(hù)等多重安全聯(lián)鎖裝置,確保人機(jī)安全。

  • 節(jié)能環(huán)保:蓄冷蓄熱設(shè)計(jì)及優(yōu)化算法,在保證性能的同時(shí)顯著降低設(shè)備運(yùn)行能耗。


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