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您的位置：首頁 / 產品展示 / 恒溫恒濕試驗箱 / 快速溫度變化試驗箱 / TEB-408PF快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環(huán)設備

快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環(huán)設備

快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環(huán)設備是專為電子芯片設計的溫度循環(huán)測試設備，專注模擬電子芯片在實際應用中面臨的溫度交替環(huán)境，通過精準控溫與循環(huán)測試，驗證芯片耐受溫度變化的能力，為電子芯片質量檢測與可靠性保障提供專業(yè)解決方案。

產品型號：TEB-408PF
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-09-29
訪問量：556

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詳細介紹

快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環(huán)設備

一、產品詳情

本快速溫變試驗箱是專為電子芯片設計的溫度循環(huán)測試設備，專注模擬電子芯片在實際應用中面臨的溫度交替環(huán)境，通過精準控溫與循環(huán)測試，驗證芯片耐受溫度變化的能力，為電子芯片質量檢測與可靠性保障提供專業(yè)解決方案。

二、用途

用于檢測電子芯片在反復高低溫循環(huán)過程中的性能穩(wěn)定性、電路導通性及使用壽命，提前暴露芯片因溫度變化可能出現(xiàn)的脫焊、性能衰減等問題，篩選不合格芯片，確保芯片在終端設備中，如智能設備、工業(yè)控制裝置內，能穩(wěn)定運行。

快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環(huán)設備

三、技術參數(shù)

溫度范圍 - 50℃~180℃，適配不同類型電子芯片測試；溫變速率 3℃/min~20℃/min 可調，滿足多樣測試需求；工作室容積 30L~300L，適配不同尺寸芯片及批量測試；控溫精度 ±0.3℃，溫度均勻度 ±1.5℃，保障數(shù)據(jù)精準；配備 10 英寸觸控屏，支持 100 組程序存儲與調用。

四、應用場景

適用于電子芯片生產企業(yè)的出廠質檢，確保每顆芯片達標；滿足芯片研發(fā)實驗室的性能測試，助力優(yōu)化芯片設計；適配第三方檢測機構的認證測試，提供合規(guī)數(shù)據(jù)；也用于終端設備廠商的芯片選型測試，保障整機質量。

五、技術特點

采用雙級壓縮制冷系統(tǒng)，實現(xiàn)快速降溫與低溫穩(wěn)定；搭載自適應 PID 控溫，避免溫度過沖；內置芯片專用夾具，確保測試過程中芯片固定穩(wěn)固；具備數(shù)據(jù)導出功能，支持測試報告自動生成；配備過流、超壓保護，保障設備安全。

六、應用領域

覆蓋消費電子領域，如手機、平板芯片測試；適用于工業(yè)電子領域，如工控機、傳感器芯片測試；服務汽車電子領域，如車載芯片測試；也用于航空航天電子領域，滿足高可靠性芯片測試需求。

七、工作原理

制冷系統(tǒng)通過制冷劑循環(huán)降低工作室溫度，加熱系統(tǒng)通過電熱管升溫，風道系統(tǒng)實現(xiàn)溫度均勻分布。傳感器實時采集溫度數(shù)據(jù)，反饋至控制系統(tǒng)，控制系統(tǒng)調節(jié)制冷與加熱輸出，使溫度按預設曲線循環(huán)變化，完成芯片測試。

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