某半導體企業(yè)采用廣皓天步入式老化試驗箱

更新時間：2025-08-08

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近日，國內(nèi)某半導體企業(yè)正式啟用廣皓天步入式老化試驗箱，旨在強化芯片可靠性測試流程，滿足不斷增長的市場對高質(zhì)量芯片的需求。此次合作標志著廣皓天在半導體測試設備領域的技術實力得到了行業(yè)認可，也為該半導體企業(yè)在車規(guī)級、工業(yè)級芯片研發(fā)領域的測試能力升級提供了有力支持。

隨著半導體行業(yè)的快速發(fā)展，芯片在復雜環(huán)境下的可靠性愈發(fā)受到關注。尤其在汽車電子、工業(yè)控制等關鍵領域，芯片必須經(jīng)受溫度、濕度等環(huán)境挑戰(zhàn)。該半導體企業(yè)作為行業(yè)重要參與者，其產(chǎn)品廣泛應用于智能終端與新能源領域，因此對芯片的穩(wěn)定性和可靠性有著要求。廣皓天步入式老化試驗箱的引入，正是為了應對這一挑戰(zhàn)，助力企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量和市場競爭力。

廣皓天步入式老化試驗箱具備多項技術特性，能夠精準模擬芯片在實際使用中可能遇到的復雜環(huán)境。該試驗箱溫度控制范圍覆蓋 - 70℃至 150℃，濕度控制精度可達 ±2% RH，能夠?qū)崿F(xiàn)多種環(huán)境條件的自由組合，滿足芯片在不同工況下的可靠性測試需求。此外，試驗箱采用了風道循環(huán)設計，確保箱內(nèi)溫濕度均勻性，避免局部環(huán)境差異影響測試結(jié)果。同時，設備搭載的智能數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)可自動生成測試報告，支持數(shù)據(jù)追溯與分析，大幅提升檢測效率。

據(jù)該半導體企業(yè)測試部門負責人介紹，廣皓天步入式老化試驗箱投入使用后，顯著提升了芯片可靠性測試的效率和準確性。通過模擬環(huán)境條件，企業(yè)能夠提前發(fā)現(xiàn)芯片潛在的質(zhì)量問題，有效縮短研發(fā)周期，降低產(chǎn)品故障率。“廣皓天的試驗箱解決了我們之前測試周期長、數(shù)據(jù)重復性差的問題，為芯片量產(chǎn)前的可靠性驗證提供了有力保障。" 該負責人表示。

此次合作不僅提升了某半導體企業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量控制能力，也為廣皓天在半導體測試設備領域的進一步發(fā)展奠定了基礎。未來，雙方計劃在定制化測試方案、技術創(chuàng)新等方面開展更深入的合作，共同推動半導體行業(yè)的技術進步和產(chǎn)業(yè)升級。

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